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   在印制電路板測(cè)試中，飛針測(cè)試正在得到廣泛的運(yùn)用。和針床測(cè)試機(jī)相比，飛針測(cè)試具有無(wú)需制作針床(治具)、可以測(cè)試高密度電路等優(yōu)點(diǎn)，所以在制作一些小批量樣板和PCB打樣時(shí)有測(cè)試速度快，費(fèi)用低的突出優(yōu)勢(shì)。對(duì)于很多中小PCB廠家來(lái)說(shuō)很實(shí)用。　　

1、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

　　飛針式測(cè)試儀是對(duì)傳統(tǒng)針床在線測(cè)試儀的一種改進(jìn)，它用探針來(lái)代替針床，在 X-Y 機(jī)構(gòu)上裝有可分別高速移動(dòng)的4 個(gè)頭共8 根測(cè)試探針，最小測(cè)試間隙為0.2mm。工作時(shí)在測(cè)單元(UUT, unit under test)通過(guò)皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測(cè)試機(jī)內(nèi)，然后固定測(cè)試機(jī)的探針接觸測(cè)試焊盤(pán)(TEST pad)和通路孔(via)，從而測(cè)試在測(cè)單元(UUT)的單個(gè)元件。測(cè)試探針通過(guò)多路傳輸(multiplexing)系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器(信號(hào)發(fā)生器、電源供應(yīng)等)和傳感器(數(shù)字萬(wàn)用表、頻率計(jì)數(shù)器等)來(lái)測(cè)試UUT 上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測(cè)試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過(guò)探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾。飛針測(cè)試機(jī)可檢查短路、開(kāi)路和元件值。在飛針測(cè)試上也使用了一個(gè)相機(jī)來(lái)幫助查找丟失元件。用相機(jī)來(lái)檢查方向明確的元件形狀，如極性電容。隨著探針定位精度和可重復(fù)性達(dá)到5-15微米的范圍，飛針測(cè)試機(jī)可精密地探測(cè)UUT。飛針測(cè)試解決了在PCB裝配中見(jiàn)到的大量現(xiàn)有問(wèn)題：如可能長(zhǎng)達(dá)4-6周的測(cè)試開(kāi)發(fā)周期;大約10,000 美元-50,000 美元的夾具開(kāi)發(fā)成本;不能經(jīng)濟(jì)地測(cè)試小批量生產(chǎn);以及不能快速地測(cè)試原型樣機(jī)(prototype)裝配。因?yàn)榫哂芯o密接觸屏蔽的UUT 的能力和使新產(chǎn)品更快投入市場(chǎng)(time-to-market)的能力，飛針測(cè)試是一個(gè)無(wú)價(jià)的生產(chǎn)資源。還有，由于不需要有經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試開(kāi)發(fā)工程師，該系統(tǒng)還具有節(jié)省人力、節(jié)省時(shí)間等好處。

2、開(kāi)發(fā)與調(diào)試

       飛針測(cè)試機(jī)的編程比傳統(tǒng)的ICT 系統(tǒng)更容易、更快捷。以 GenRad 公司的GRPILOT系統(tǒng)為例，測(cè)試開(kāi)發(fā)員將設(shè)計(jì)工程師的CAD數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成可使用的文件，這個(gè)過(guò)程需要1-4 個(gè)小時(shí)。然后該新文件通過(guò)測(cè)試程序運(yùn)行，產(chǎn)生一個(gè) .IGE和 .SPC 文件，再放入一個(gè)目錄。然后軟件運(yùn)行在目錄內(nèi)產(chǎn)生需要測(cè)試UUT的所有文件。短路的測(cè)試類(lèi)型是從選項(xiàng)頁(yè)面內(nèi)選擇。測(cè)試機(jī)在UUT上使用的參考點(diǎn)從CAD信息中選擇。UUT放在平臺(tái)上固定。在軟件開(kāi)發(fā)完成后，該程序被“擰進(jìn)去”，以保證選擇到盡可能最佳的測(cè)試位置。這時(shí)加入各種元件“保護(hù)”(元件測(cè)試隔離)。一個(gè)典型的1000個(gè)節(jié)點(diǎn)的UUT的測(cè)試開(kāi)發(fā)所花的時(shí)間是 4-6 個(gè)小時(shí)。在軟件開(kāi)發(fā)和裝載完成以后，開(kāi)始典型的飛針測(cè)試過(guò)程的測(cè)試調(diào)試。調(diào)試是測(cè)試開(kāi)發(fā)員接下來(lái)的工作，需要用來(lái)獲得盡可能最佳的UUT測(cè)試覆蓋。在調(diào)試過(guò)程中，檢查每個(gè)元件的上下測(cè)試極限，確認(rèn)探針的接觸位置和零件值。典型的1000個(gè)節(jié)點(diǎn)的UUT調(diào)試可能花 6-8小時(shí)。飛針測(cè)試機(jī)的開(kāi)發(fā)容易和調(diào)試周期短，使得UUT的測(cè)試程序開(kāi)發(fā)對(duì)測(cè)試工程師的要求相當(dāng)少。在接到CAD數(shù)據(jù)和UUT準(zhǔn)備好測(cè)試之間這段短時(shí)間，允許制造過(guò)程的最大數(shù)量的靈活性。

3、優(yōu)點(diǎn)概述

　 飛針測(cè)試優(yōu)點(diǎn)包括： 快速測(cè)試開(kāi)發(fā);較低成本測(cè)試方法;快速轉(zhuǎn)換的靈活性;以及在原型階段為設(shè)計(jì)人員提供快速的反饋。因此，和傳統(tǒng)的ICT比較，飛針測(cè)試所要求的時(shí)間通過(guò)減少總的測(cè)試時(shí)間足以彌補(bǔ)。 使用飛針測(cè)試系統(tǒng)的好處大于缺點(diǎn)。例如，裝配過(guò)程中，這樣一個(gè)系統(tǒng)提供在接收到CAD文件幾小時(shí)后就可以開(kāi)始生產(chǎn)。因此，原型電路板在裝配后數(shù)小時(shí)即可測(cè)試，不象ICT，高成本的測(cè)試開(kāi)發(fā)與夾具可能將過(guò)程延誤幾天，甚至幾月。除此之外，由于設(shè)定、編程和測(cè)試的簡(jiǎn)單與快速，實(shí)際上一般技術(shù)裝配人員，而不是工程師，就可以操作測(cè)試。飛針測(cè)試也存在靈活性，做到快速測(cè)試轉(zhuǎn)換和過(guò)程錯(cuò)誤的快速反饋。還有，因?yàn)轱w針測(cè)試不需要夾具開(kāi)發(fā)成本，所以它是一個(gè)可以放在典型測(cè)試過(guò)程前面的低成本系統(tǒng)。并且因?yàn)轱w針測(cè)試機(jī)改變了低產(chǎn)量和快速轉(zhuǎn)換裝配的測(cè)試方法，通常需要幾周開(kāi)發(fā)的測(cè)試現(xiàn)在數(shù)小時(shí)就可以得到。

    講了飛針測(cè)試的這么多優(yōu)點(diǎn)，在具體的選擇上還是要根據(jù)自身的一些需求來(lái)定，如果批量的PCB板也選用飛針測(cè)試就會(huì)比較慢！所以適合的才是最好的！